C-V测试原理及其应用简介 C-V测试是一种常用的测试方法，用于测量半导体器件的电容与电压之间的关系。它是一种非常重要的测试方法，可以用于评估半导体器件的性能和质量。C-V测试可以帮助工程师们更好地了解半导体器件的特性，从而优化器件的设计和制造过程。本文将详细介绍C-V测试的原理和应用。 小标题1：C-V测试原理 C-V测试是一种基于电容-电压特性的测试方法。该测试方法利用半导体器件中的电容来测量电压的变化。在C-V测试中，电容是通过将一个交流信号施加到半导体器件上来测量的。当电容的值发生变化